紅外測厚儀的測量原理和注意事項說明

　　紅外測厚儀的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結(jié)果顯示系統(tǒng)。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變，相應(yīng)地成像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化。

　　紅外測厚儀測量注意事項:

　　1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。

　　2、測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

　　3、測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　4、測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

　　5、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

　　6、測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

　　7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

　　8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。