Kurabo鈍化膜測厚儀測量精度要求由哪些？

　　Kurabo鈍化膜測厚儀測量精度要求由哪些？

　　涂層厚度是檢驗涂層質(zhì)量的重要指標之一，為了不破壞涂層表面性能，準確的評定涂層厚度，就可以采用各種無損檢測方法來進行測量。本文就給大家?guī)沓Ｓ玫臒o損涂層測厚技術(shù)以及不同Kurabo鈍化膜測厚儀測量精度，感興趣的朋友不妨來看看吧！

　　Kurabo鈍化膜測厚儀精度要求：

　　影響Kurabo鈍化膜測厚儀測量值精度的因素主要就有以下幾點：

　　1、基體金屬磁性質(zhì)。

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準，也可用待涂覆試件進行校準。

　　2、基體金屬電性質(zhì)。

　　基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

　　3、基體金屬厚度。

　　每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　4、邊緣效應(yīng)。

　　儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此，在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

　　5、曲率。

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　6、試件的變形。

　　側(cè)頭會使軟覆蓋層試件變形，因此，在這些試件上測出的數(shù)據(jù)不可靠。

　　7、表面粗糙度。

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙程度越大，影響越大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解出去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

　　8、周圍磁場。

　　周圍各種電器設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　9、測頭壓力。

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

　　10、測頭的取向。

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測頭與試樣表面保持垂直，這是使用儀器時應(yīng)當遵守的規(guī)定。

　　11、讀數(shù)次數(shù)。

　　通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積進行多次測量，表面粗糙時更應(yīng)如此。

　　12、表面清潔度。

　　測量前，應(yīng)清楚表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。