紅外膜厚儀儀器組成和測量原理解析

更新時間：2022-07-06 | 點擊率：1215

　　紅外膜厚儀基于紅外濾波片技術制造，專業(yè)為工業(yè)和科研環(huán)境使用而設計。它圖形化顯示油膜厚度，可選參數(shù)和校準選擇等選項，更為直觀地給出油膜厚度結果，方便操作。測量*不破壞油膜和基底。適用于潤滑或防腐保護油膜，干潤滑劑或其他有機酸涂層。有一種*的方法來確保此儀器處于可靠運算狀態(tài)。這種取得的方法是基于使用包含穩(wěn)定的樣品薄膜的基準樣片。用戶可以通過本基準樣片很容易的檢查儀器的響應。

　　紅外膜厚儀儀器組成和測量原理：

　　由激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結果顯示系統(tǒng)組成。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化。

　　利用紅外光穿透物質(zhì)時的吸收、反射、散射等效應實現(xiàn)非接觸式測量薄膜類材料的厚度。當射線穿過被測材質(zhì)時，一部分射線被材質(zhì)吸收導致強度減弱，利用這一原理來檢測被測物質(zhì)的厚度。被測材質(zhì)位于放射源和核探測器之間，射線穿過被測材質(zhì)后進入核探測器，其強度將有所衰減。對于同一種材質(zhì)，厚度越大，則射線的衰減越大。

　　紅外膜厚儀進行測量時有哪些注意事項：

　　周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

　　在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

　　基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

　　不要在內(nèi)轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

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